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題 名:
A Power Constrained Monitoring Scheme for SoC Testing:功率限制下系統晶片測試之監控系統
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18 2003.12[民92.12]
- 頁 次:
頁115-125
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題 名:
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題 名:
以嶄新之隨機存取掃描測試架構減少峰值功率,測試資料與時間:A Novel Random Access Scan for Reducing Peak Power, Test Data and Time
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25 2007.12[民96.12]
- 頁 次:
頁(附)15-(附)20
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題 名: