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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23 1998.11[民87.11]
- 頁 次:
頁41-70
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題 名:
Automatic Wafer Surface Inspection Using Gray Level Intensity Method:應用灰階強度方法於晶圓表面瑕疵自動化檢驗之研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁53-68
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題 名:
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題 名:
羅吉斯迴歸在半導體製程分析上之應用:An Application of Logistic Regression Method for Semiconductor Process Analysis
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁91-105
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題 名:
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題 名:
半導體製程能力分析之研究:Study of Process Capability in Semiconductor Manufacturing
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁153-169
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題 名: