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薄膜相變化光學檢測系統之檢測光源特性研究:Evaluation of Probe Lasers Employed in Optical Diagnostics for Phase Transformation of Thin Films
郭啟全 Kuo, Chil-chyuan;
光學工程
102 2008.08[民97.08]
頁58-66
TCI引用統計