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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:8=313 2001.08[民90.08]
- 頁 次:
頁314-327
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28:2=319 2002.02[民91.02]
- 頁 次:
頁352-360
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:6 1973.04[民62.04]
- 頁 次:
頁169-174
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29:10=339 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁48-55
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
38:10 2002.10[民91.10]
- 頁 次:
頁42-50
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28:8=325 2002.08[民91.08]
- 頁 次:
頁42-49
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:12=245 1995.12[民84.12]
- 頁 次:
頁154-157
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:5=358 2005.05[民94.05]
- 頁 次:
頁56-62
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
46:11 1995.11[民84.11]
- 頁 次:
頁23-30
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- 題 名:
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編 次:
上
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:11=172 1989.11[民78.11]
- 頁 次:
頁188-197
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- 題 名:
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編 次:
中
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:12=173 1989.12[民78.12]
- 頁 次:
頁205-217
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:12=125 1985.12[民74.12]
- 頁 次:
頁100-103
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- 題 名:
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編 次:
下
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:1=174 1990.01[民79.01]
- 頁 次:
頁211-226
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9:11=100 1983.11[民72.11]
- 頁 次:
頁292-296
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題 名:
評估記憶體IC預燒簡化之可行方法:The Evaluation of Burn-in Reduction Approach for Memory IC
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
51:3 2015.03[民104.03]
- 頁 次:
頁29-35
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
38:8=445 2012.08[民101.08]
- 頁 次:
頁80-95
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40:4=465 2014.04[民103.04]
- 頁 次:
頁20-42
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題 名:
製造缺陷引發積體電路可靠度失效實例探討:Case Study for IC Reliability Failure Caused by Manufacturing Defects
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
50:10 2014.10[民103.10]
- 頁 次:
頁24-28
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
42:4=489 2016.04[民105.04]
- 頁 次:
頁25-40