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題 名:
Built-in self testing for complex digital integrated circuits:數位積體電路內建自測線路之研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6 1991.01[民80.01]
- 頁 次:
頁207-222
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11 1995.06[民84.06]
- 頁 次:
頁27-36
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
WTO貿易與物流專刊 民94.07
- 頁 次:
頁53-61
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5 1971.06[民60.06]
- 頁 次:
頁99-112
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5 1971.06[民60.06]
- 頁 次:
頁133-148
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
1 民62.07
- 頁 次:
頁左111-118