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電線短路熔痕以二次離子質譜儀(SIMS)作表面分析之鑑識方法:Analysis of Fire Investigation for Short Circuit by Applying Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS)
王靜婷 陳火炎
中央警察大學災害防救學報
2 2001.06[民90.06]
頁1-14
TCI引用統計