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題 名:
Design and Fabrication of a Strain-Type Scanning Probe for Atomic Force Microscopy:應變式掃瞄探針之設計與製作
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:1 1999.02[民88.02]
- 頁 次:
頁1-9
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:5 2001.10[民90.10]
- 頁 次:
頁371-376
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:4 2001.07[民90.07]
- 頁 次:
頁419-429
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題 名:
Capacitive Micro Pressure Sensors with Underneath Readout Circuit Using a Standard CMOS Process:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:2 2003.03[民92.03]
- 頁 次:
頁237-241
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:5 1993.09[民82.09]
- 頁 次:
頁621-630
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:1 2004.01[民93.01]
- 頁 次:
頁161-164
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32:3 2011.06[民100.06]
- 頁 次:
頁199-207
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題 名:
Nanoparticle Manipulation Using Atomic Force Microscopy:利用原子力顯微鏡操控奈米粒子之定位控制
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:1 2010.02[民99.02]
- 頁 次:
頁29-37
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33:1 2010.01[民99.01]
- 頁 次:
頁55-61
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題 名:
Tip Profile Estimation of Scanned Probe Microscopy for Micro and Nano Surface Roughness Measurement:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33:1 2010.01[民99.01]
- 頁 次:
頁63-70
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題 名:
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題 名:
Surface Profiler Design with Multi-Sensor Data Fusion Methods:多重資訊整合之接觸式掃描探針顯微系統研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:6 民94.12
- 頁 次:
頁747-752
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題 名:
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題 名:
A Compact AFM System for Rapid and Large Area Surface Topography Measurement:高速且具大面積量測能力的原子力顯微鏡系統
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:5 民95.10
- 頁 次:
頁525-530
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題 名:
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題 名:
A Determination of Vertical-scan Range for White-light Interferometer:白光干涉儀縱向掃描範圍判定
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:5 民95.10
- 頁 次:
頁549-554
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
44:1 2023.02[民112.02]
- 頁 次:
頁23-35