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題 名:
Traceable Nanometrology with a Nanopositioning and Nanomeasuring Machine:以奈米定位及奈米量測儀發展可朔源的奈米計量技術
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:5 民93.10
- 頁 次:
頁399-404
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題 名: