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Analytical Models for Intrinsic Base Resistance and Cutoff Freguency of Bipolar Transistors Biased at High Injection:當高注射效應發生時雙載子電晶體的內部基極電阻及截止頻率之分析式
盧道政 郭正邦
中國工程學刊
14:6 1991.11[民80.11]
頁645-651
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