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半導體元件可靠度簡介--熱載子效應:Semiconductor Device Reliability--Hot Carrier Effect
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
62 1997.09[民86.09]
- 頁 次:
頁53-58
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
71 1992.11[民81.11]
- 頁 次:
頁70-75
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
Proceedings of the National Science Council : Part A, Physical Science and Engineering
- 卷 期:
14:5 1990.09[民79.09]
- 頁 次:
頁372-379
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:2 民95.11
- 頁 次:
頁44-49
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32:4 民93.10
- 頁 次:
頁35-40