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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:12=81 1999.12[民88.12]
- 頁 次:
頁240-248
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6 2001.06[民90.06]
- 頁 次:
頁567-590
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8 2000.07[民89.07]
- 頁 次:
頁140-152
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2:6=11 1996.06[民85.06]
- 頁 次:
頁37-45
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18:1=93 1996.08[民85.08]
- 頁 次:
頁25-28
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9:6=95 2003.06[民92.06]
- 頁 次:
頁141-149
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:3/4 民94.09
- 頁 次:
頁173-180
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:5=146 2005.05[民94.05]
- 頁 次:
頁109-115
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
467 1987.07[民76.07]
- 頁 次:
頁37-51
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
427 1984.03[民73.03]
- 頁 次:
頁26-31
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
153 2013.09[民102.09]
- 頁 次:
頁33-38
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題 名:
光學式微/奈米表徵顯微量測術:Optical Micro-to-Nanoscale Surface Profilometry
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:2=142 2004.10[民93.10]
- 頁 次:
頁40-49
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30:5 2009.10[民98.10]
- 頁 次:
頁363-370
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題 名:
微量分析技術於半導體相關工業上的應用:Applications of Ultra Trace Analysis Techniques in Semiconductor Related Industry
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:6 1999.06[民88.06]
- 頁 次:
頁52-58
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
88 民95.10
- 頁 次:
頁75-80
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題 名:
光電特化材料之微量分析與純化技術:Trace Analysis and Purification of Electro-Optic Materials
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
376 2018.04[民107.04]
- 頁 次:
頁40-46
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
207 2022.09[民111.09]
- 頁 次:
頁8-14
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
207 2022.09[民111.09]
- 頁 次:
頁15-22