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- 題 名:
氧化鉿薄膜之漏電流分析:Leakage Current Mechanism of HfO[feaf] Thin Film Capacitors
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12 1999.06[民88.06]
- 頁 次:
頁79-89
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12:1 2003.06[民92.06]
- 頁 次:
頁57-60
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8 1995.10[民84.10]
- 頁 次:
頁267-272
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- 題 名:
利用電子束微影技術完成奈米尺寸圖案:Implementing a Nano-Scale Pattern by the Electron-Beam Micro-lithography Technique
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:1 2004.06[民93.06]
- 頁 次:
頁95-98
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:1 2008.06[民97.06]
- 頁 次:
頁5-7
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:2 2009.06[民98.06]
- 頁 次:
頁14-20
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:2 2009.06[民98.06]
- 頁 次:
頁19-23
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:1=193 2007.01[民96.01]
- 頁 次:
頁198-209
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- 題 名:
Deep Ultraviolet-Assisted Photo-Electro-Chemical Wet Etching of N-Type GaN:以深紫外線輔助對N型氮化鎵做光電化學濕式蝕刻
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
3:3 2007.09[民96.09]
- 頁 次:
頁61-65
- 題 名:
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- 題 名:
Probability-Based Static Scaling Optimization for Fixed Wordlength FFT Processors:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30:4 2014.07[民103.07]
- 頁 次:
頁991-1014
- 題 名: