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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:1 1999.01[民88.01]
- 頁 次:
頁109-116
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9:2 民91.12
- 頁 次:
頁1-17
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:1 民88.06
- 頁 次:
頁157-182
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題 名:
羅吉斯迴歸在半導體製程分析上之應用:An Application of Logistic Regression Method for Semiconductor Process Analysis
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁91-105
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題 名:
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題 名:
動態X光影像強化與瑕疵分類之研究:Study of Dynamic X-Ray Image Enhancement and Defects Classification
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:4 2004.07[民93.07]
- 頁 次:
頁409-421
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:4 2009.08[民98.08]
- 頁 次:
頁233-243