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題 名:
整合供給與需求的供應鏈配銷系統:A Distribution with Integration of Supply and Demand in Supply Chain
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:6 2000.11[民89.11]
- 頁 次:
頁671-681
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題 名:
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題 名:
特徵為基礎之晶圓缺陷圖樣辨識與分類演算法:Feature Based Defect Map Pattern Recognition and Classification Algorithm
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:4 2002.07[民91.07]
- 頁 次:
頁17-24
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題 名:
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題 名:
晶圓良率損失資料分群模式之研究:A Data Clustering Model for Wafer Yield Loss in Semiconductor Manufacturing
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:4 2004.07[民93.07]
- 頁 次:
頁328-338
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:3 2008.05[民97.05]
- 頁 次:
頁187-203
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
45 2022.10[民111.10]
- 頁 次:
頁93-108