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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:1 2001.06[民90.06]
- 頁 次:
頁1-2
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
152 2001.05[民90.05]
- 頁 次:
頁14-20
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:1 1997.06[民86.06]
- 頁 次:
頁68-69
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7 2002.12[民91.12]
- 頁 次:
頁165-183
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:2 2003.01[民92.01]
- 頁 次:
頁41-72
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題 名:
Automatic Wafer Surface Inspection Using Gray Level Intensity Method:應用灰階強度方法於晶圓表面瑕疵自動化檢驗之研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁53-68
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
77 1983.06[民72.06]
- 頁 次:
頁49-55
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:1 2011.02[民100.02]
- 頁 次:
頁(4)0-(4)21
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:1 2014.04[民103.04]
- 頁 次:
頁41-84
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:2 2009.05[民98.05]
- 頁 次:
頁39-51