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題 名:
Automatic Wafer Surface Inspection Using Gray Level Intensity Method:應用灰階強度方法於晶圓表面瑕疵自動化檢驗之研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁53-68
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題 名:
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題 名:
羅吉斯迴歸在半導體製程分析上之應用:An Application of Logistic Regression Method for Semiconductor Process Analysis
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁91-105
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:3 民93.09
- 頁 次:
頁223-237
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:4 2013.08[民102.08]
- 頁 次:
頁427-444
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題 名:
全面資源管理架構:以晶圓廠為實證:Total Resource Management Framework: An Empirical Study of Semiconductor Fab
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18:6 2011.12[民100.12]
- 頁 次:
頁581-607
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40週年校慶特輯 民93.11
- 頁 次:
頁139-159
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40週年校慶特輯 民93.11
- 頁 次:
頁161-181
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12:4 民94.12
- 頁 次:
頁273-284
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:6 2018.12[民107.12]
- 頁 次:
頁361-379