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題 名:
利用原子力顯微鏡探討薄膜之表面自由能性質研究:Surface Free Energy of Thin Films Investigated Using Atomic Force Microscopy
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:1 2008.08[民97.08]
- 頁 次:
頁231-236
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題 名: