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題 名:
The Application of HfO[feaf]in IC Memory:HfO[feaf]應用於積體電路記憶體
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21 1998.03[民87.03]
- 頁 次:
頁左83-87
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
80 2001.07[民90.07]
- 頁 次:
頁21-26
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
72 1997.10[民86.10]
- 頁 次:
頁33-48
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:6=104 1998.06[民87.06]
- 頁 次:
頁4-15
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
61 1998.05[民87.05]
- 頁 次:
頁71-81
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
262 2003.06[民92.06]
- 頁 次:
頁88
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:5 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁620-631
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題 名:
原子力顯微儀的原理(上):An Introduction to the Principle of Atomic Force Microscope (Ⅰ)
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2=148 民94.10
- 頁 次:
頁46-57
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題 名:
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題 名:
商用原子力顯微儀的評估方法:A Quick Method of Evaluation for Commercial Atomic Force Microscope
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2=148 民94.10
- 頁 次:
頁58-65
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題 名:
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題 名:
原子力顯微儀的原理(下):An Introduction to the Principle of Atomic Force Microscope (Ⅱ)
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:3=149 民94.12
- 頁 次:
頁67-77
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題 名:
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題 名:
原子力顯微鏡搭配雙傾斜疊合法量測線寬之技術研究:AFM Linewidth Measurement Employing Image Stitching Method
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35 2013.11[民102.11]
- 頁 次:
頁36-45
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14 2014.04[民103.04]
- 頁 次:
頁54-60
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
106 2017.12[民106.12]
- 頁 次:
頁22-25
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題 名:
原子力顯微儀發展趨勢「精準探測」:Development Trends of Atomic Force Microscopy--Precision Detection
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
226 2021.03[民110.03]
- 頁 次:
頁82-85
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題 名: