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題 名:
光擾對掃描電容顯微術之影響分析:The Influence of Photoperturbation on Scanning Capacitance Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:1=141 2004.08[民93.08]
- 頁 次:
頁56-62
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題 名:
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題 名:
高靈敏度掃描電容顯微術之發展與應用:Development and Applications of High-Sensitivity Scanning Capacitance Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32:1=177 2010.08[民99.08]
- 頁 次:
頁6-12
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:3 民95.08
- 頁 次:
頁47-53