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檢索結果筆數(7)。
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題 名:
奈米量測的應用:
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作者:
陳鵬飛
- 書刊名:
塑膠資訊
- 卷 期:
79 2003.06[民92.06]
- 頁 次:
頁15-22
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題 名:
奈米量測技術:
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作者:
林芳禾
劉大佼
- 書刊名:
塑膠資訊
- 卷 期:
85 2003.12[民92.12]
- 頁 次:
頁2-11
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題 名:
奈米三維形貌量測系統研究分析:
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作者:
翁漢甫
吳乾琦
許正治
- 書刊名:
量測資訊
- 卷 期:
108 民95.03
- 頁 次:
頁42-45
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題 名:
像散式光學偵測系統:奈米量測新利器:Astigmatic Detection System: New Tool for Precision Measurements
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作者:
黃英碩
胡恩德
黃光裕
張嘉升
廖先順
王偉珉
陳彥宏
陳敬修
鄭仲翔
黃宣富
Hwang, Ing-shouh;
Hwu, En-te;
Huang, Kuang-yuh;
Chang, Chia-seng;
Liao, Hsien-shun;
Wang, Wei-min;
Chen, Yen-hung;
Chen, Ching-hsiu;
Cheng, Chung-hsiang;
Huang, Hsuan-fu;
- 書刊名:
科儀新知
- 卷 期:
200 2014.09[民103.09]
- 頁 次:
頁46-65
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題 名:
針對奈米級製造之奈米量測技術:
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作者:
藤田大介
吳偉琳
- 書刊名:
電子月刊
- 卷 期:
14:1=150 2008.01[民97.01]
- 頁 次:
頁165-174
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題 名:
光學影像式奈米線寬量測之研究:
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作者:
劉安順
顧逸霞
- 書刊名:
量測資訊
- 卷 期:
111 民95.09
- 頁 次:
頁37-41
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題 名:
二維光柵干涉位移量測技術:
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作者:
高清芬
張中柱
- 書刊名:
量測資訊
- 卷 期:
111 民95.09
- 頁 次:
頁42-49
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