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低光擾掃描電容顯微鏡分析技術及其在載子分布分析之應用:Low-Photo-Perturbed Scanning Capacitance Microscopy and Its Applications on Analyzing Carrier Distribution
張茂男 陳志遠 萬文武 梁正宏 潘扶民 Chang, Mao-nan; Chen, Chih Yuan; Wan, Wen-wu; Liang, Jenq-horng; Pan, Fu-ming;
科儀新知
25:2=136 2003.10[民92.10]
頁61-67
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