刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
當奈米探針工程師遇到新型原子力顯微鏡--新表面特性辨識技術:When a Nano-Probe Engineer Meet a New Type of AFM--A Novel Analysis Technology for Surface Property
高豐生 朱仁佑 Kao, Feng-sheng; Chu, Jen-you;
科儀新知
211 2017.06[民106.06]
頁89-96
TCI引用統計