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題 名:
電性掃描探針顯微術簡介:Introduction to Electric Scanning Probe Microscopy
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:3=131 2002.12[民91.12]
- 頁 次:
頁27-39
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:2=136 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁61-67
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2=148 民94.10
- 頁 次:
頁7-15
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:5=193 2013.04[民102.04]
- 頁 次:
頁78-89
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題 名:
掃描探針顯微鏡之影像處理與分析:Image Process and Analysis of Scanning Capacitance Microscopy
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:3=143 2004.12[民93.12]
- 頁 次:
頁43-50
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題 名:
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題 名:
光擾對掃描電容顯微術之影響分析:The Influence of Photoperturbation on Scanning Capacitance Microscopy
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:1=141 2004.08[民93.08]
- 頁 次:
頁56-62
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題 名:
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題 名:
高靈敏度掃描電容顯微術之發展與應用:Development and Applications of High-Sensitivity Scanning Capacitance Microscopy
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32:1=177 2010.08[民99.08]
- 頁 次:
頁6-12
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題 名:
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題 名:
應用於場感測量測的針尖奈米球團技術:A Metallic Nano-Cluster at a Tip Apex Applied to Field-Sensitive Measurements
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33:3=185 2011.12[民100.12]
- 頁 次:
頁70-77
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題 名: