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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:4=144 2005.02[民94.02]
- 頁 次:
頁18-27
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題 名:
原子力顯微儀的原理(上):An Introduction to the Principle of Atomic Force Microscope (Ⅰ)
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2=148 民94.10
- 頁 次:
頁46-57
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題 名:
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題 名:
原子力顯微儀的原理(下):An Introduction to the Principle of Atomic Force Microscope (Ⅱ)
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:3=149 民94.12
- 頁 次:
頁67-77
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題 名:
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題 名:
像散式光學偵測系統:奈米量測新利器:Astigmatic Detection System: New Tool for Precision Measurements
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
200 2014.09[民103.09]
- 頁 次:
頁46-65
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題 名: