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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:5=121 2001.04[民90.04]
- 頁 次:
頁67-75
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:2 2003.05[民92.05]
- 頁 次:
頁17-24
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題 名:
電性掃描探針顯微術簡介:Introduction to Electric Scanning Probe Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:3=131 2002.12[民91.12]
- 頁 次:
頁27-39
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:2=136 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁61-67
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9:6=95 2003.06[民92.06]
- 頁 次:
頁150-158
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:2 2004.05[民93.05]
- 頁 次:
頁13-19
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:7=120 民94.07
- 頁 次:
頁137-143
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2=148 民94.10
- 頁 次:
頁7-15
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12:4 民94.11
- 頁 次:
頁17-22
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題 名:
掃描探針顯微鏡之影像處理與分析:Image Process and Analysis of Scanning Capacitance Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:3=143 2004.12[民93.12]
- 頁 次:
頁43-50
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題 名:
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題 名:
光擾對掃描電容顯微術之影響分析:The Influence of Photoperturbation on Scanning Capacitance Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:1=141 2004.08[民93.08]
- 頁 次:
頁56-62
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題 名: