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針對產業應用之掃描探針顯微鏡--需求與技術瓶頸的突破:Industrialization of Scanning Probe Microscopes--The Needs and Breakthrough of the Technology Bottleneck
朱怡銘 吳兆棋
機械工業
267 2005.06[民94.06]
頁108-118
TCI引用統計