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題 名:
XPS超薄薄膜分析:Ultra-Thin Film Analysis by Angled Resolved X-Ray Photoelectron Spectroscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:3=131 2002.12[民91.12]
- 頁 次:
頁4-13
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:6=83 2002.06[民91.06]
- 頁 次:
頁154-163
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題 名:
X-ray Photoelectron Spectroscopy of Layered Semiconductor WS₂ Single Crystals:層狀半導體二硫化鎢的XPS物性研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
3:1 2010.03[民99.03]
- 頁 次:
頁5-14
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題 名: