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Photoreflectance Characterization of InAlAs/InGaAs Heterojunction Bipolar Transitors with Various Spacer Thickness:應用光調制反射光譜探討間隔層厚度對砷化銦鋁/砷化銦鎵異質接面雙極性電晶體之影響
陳堯輝 Chen, Y. H.;
臺北技術學院學報
29:1 1996.03[民85.03]
頁15-25
TCI引用統計