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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18 1998.10[民87.10]
- 頁 次:
頁30-33
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題 名:
Fast Deterministic Test Pattern Generation for Scan-Based BIST Environment:掃描植入式自我測試環境之快速特定測試向量產生器
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁365-376
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題 名:
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題 名:
多層低溫共燒陶瓷濾波器試量產之設計與量測分析:The Development and Analysis of MLC/LTCC Filters for Pilot Run
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
89 2000.05[民89.05]
- 頁 次:
頁3-10
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:11=268 1997.11[民86.11]
- 頁 次:
頁318-322
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
70 1998.06[民87.06]
- 頁 次:
頁39-40
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
70 1998.06[民87.06]
- 頁 次:
頁52-59
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
3:5=22 1997.05[民86.05]
- 頁 次:
頁46-52
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
91 1994.07[民83.07]
- 頁 次:
頁89-92
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26 1994.02[民83.02]
- 頁 次:
頁9-16
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
165 民94.07
- 頁 次:
頁64-65+68-69
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
43:2 2015.04[民104.04]
- 頁 次:
頁113-124
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題 名:
最新AMOLED製程與設備技術發展狀況:Recent Progress in AMOLED Process and Equipment Technologies
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
351 2012.06[民101.06]
- 頁 次:
頁32-44
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題 名:
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題 名:
大面積模組沉積製作技術(下):Manufacture and Deposition Technology for Large Area Silicon Thin Film Module (2)
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
282 2010.06[民99.06]
- 頁 次:
頁180-184
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題 名:
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題 名:
大面積模組沉積製作技術(上):Manufacture and Deposition Technology for Large Area Silicon Thin Film Module (1)
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
281 2010.05[民99.05]
- 頁 次:
頁123-129
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
205 2008.11[民97.11]
- 頁 次:
頁64-66+68-70
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題 名:
應用在內建式自我測試的特定序列與類隨機向量產生器:Deterministic and Pseudo-Random Pattern Generator for BIST
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:10=171 2009.10[民98.10]
- 頁 次:
頁123-133
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
391 2019.07[民108.07]
- 頁 次:
頁130-136
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
392 2019.08[民108.08]
- 頁 次:
頁153-160