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題 名:
單一粒界VLSI鋁線之EM現象研究:Electromigration in a Single Grain Boundary Structure AL Line
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12:3 1997.09[民86.09]
- 頁 次:
頁433-438
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題 名:
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題 名:
A Grain-Boundary Trapping Model of Polycrystalline Silicon Film:矽 複晶膜的晶粒界陷穽模型理論
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:2 1982.04[民71.04]
- 頁 次:
頁93-98
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題 名: