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- 題 名:
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- 卷 期:
17:2 2000.03[民89.03]
- 頁 次:
頁133-146
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
1:1 2001.01[民90.01]
- 頁 次:
頁55-68
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題 名:
Modeling Overlay Errors and Sampling Strategies to Improve Yield:覆蓋誤差模式及取樣策略對良率改善之研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18:3 2001.05[民90.05]
- 頁 次:
頁95-103
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:2 2002.03[民91.03]
- 頁 次:
頁23-38
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題 名:
半導體製程資料特徵萃取與資料挖礦之研究:Semiconductor Manufacturing Data Mining for Clustering and Feature Extraction
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:1 2003.07[民92.07]
- 頁 次:
頁63-84
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
136 1994.07[民83.07]
- 頁 次:
頁168-182
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12:4 民94.10
- 頁 次:
頁121-141
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題 名:
半導體測試區晶圓流量管理實務分析:Analysis of Production and Data Flow for Semiconductor Sorting Area
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:2 民90.12
- 頁 次:
頁221-228
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題 名: