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題 名:
Fast Deterministic Test Pattern Generation for Scan-Based BIST Environment:掃描植入式自我測試環境之快速特定測試向量產生器
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁365-376
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題 名:
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題 名:
系統晶片測試之掃描鏈重序設計:The Design of Scan Chain Reordering for System-on-Chip Testing
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23 2009.02[民98.02]
- 頁 次:
頁111-120
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題 名:
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題 名:
低功率數位電路測試資料壓縮及產生方法:Data Compression and Generation Methods of Low Power Digital Circuit Test
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
48:2 2020.04[民109.04]
- 頁 次:
頁134-137
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題 名: