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- 題 名:
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- 卷 期:
32:4=369 民95.04
- 頁 次:
頁46-57
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
11:6=119 2005.06[民94.06]
- 頁 次:
頁216-223
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- 題 名:
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- 卷 期:
100 2012.07[民101.07]
- 頁 次:
頁51-54
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- 題 名:
- 作 者:
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- 卷 期:
166 2015.11[民104.11]
- 頁 次:
頁22-26
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
166 2015.11[民104.11]
- 頁 次:
頁54-59
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- 作 者:
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- 卷 期:
171 2016.09[民105.09]
- 頁 次:
頁49-54
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
203 2015.06[民104.06]
- 頁 次:
頁40-60
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題 名:
瞬時相移干涉應用於表面形貌之量測:Surface Profile Measurement with Instantaneous Phase-Shifting Interferometry
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32:5=181 2011.04[民100.04]
- 頁 次:
頁61-67
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
145 2012.05[民101.05]
- 頁 次:
頁30-33
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35:10=411 2009.10[民98.10]
- 頁 次:
頁24-37
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35:10=411 2009.10[民98.10]
- 頁 次:
頁52-60
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題 名:
雷射光學麥克生干涉圖紋之解析能力及薄膜表面檢測技術:The Resolution of Michelson Interferometer in Thin Films Surface Profiling
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
323 2010.02[民99.02]
- 頁 次:
頁95-102
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題 名:
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
327 2010.06[民99.06]
- 頁 次:
頁54-65
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
119 2008.01[民97.01]
- 頁 次:
頁24-33
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:2(A) 民95.05
- 頁 次:
頁171-183
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
37:2 民95.01
- 頁 次:
頁17-23
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
34:8=397 2008.08[民97.08]
- 頁 次:
頁48-60
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
31:4 2018.12[民107.12]
- 頁 次:
頁5-12
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
218 2019.03[民108.03]
- 頁 次:
頁76-90
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
9:2 2019.12[民108.12]
- 頁 次:
頁1-10