查詢結果
檢索結果筆數(2)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
-
-
題 名:
太陽能晶片表面隨機紋路瑕疵檢測:Defect Detection in Solar Wafer Surfaces with Inhomogeneous Texture
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
352 2012.07[民101.07]
- 頁 次:
頁15-23
-
題 名:
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:4=165 2009.04[民98.04]
- 頁 次:
頁107-123