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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
378 2014.09[民103.09]
- 頁 次:
頁101-109
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題 名:
線型彩色共焦三維形貌顯微術:Line-Scanning Chromatic Confocal Three-Dimensional Microscopic Surface Profilometry
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:2=190 2012.10[民101.10]
- 頁 次:
頁55-64
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
203 2015.06[民104.06]
- 頁 次:
頁40-60
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30:5 2009.10[民98.10]
- 頁 次:
頁363-370
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題 名:
彩色共焦顯微術於微結構線上檢測研究:New Chromatic Confocal Microscope for Full-field Micro Surface Measurement
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
318 2009.09[民98.09]
- 頁 次:
頁32-40
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
3:4 民95.12
- 頁 次:
頁567-579
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:11=191 民95.11
- 頁 次:
頁144-152
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題 名:
晶圓厚度及翹曲檢測技術發展:Development of Wafer Thickness and Warpage Measurement Techniques
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
483 2023.06[民112.06]
- 頁 次:
頁57-64
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題 名: