刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
A Bad-Block Test Design for Multiple Flash-Memory Chips:
吳晉賢 Wu, Chin-hsien;
Journal of Information Science and Engineering
28:6 2012.11[民101.11]
頁1091-1104
TCI引用統計