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應用PZT結合快速影像處理於微米等級3D形貌的顯微量測:3D Surface Profiling Measurement Based on PZT Using Binning Method in Microscopy
吳柏勳 王彥中 翁精鋒 呂國豪 翁俊仁 鄭璧瑩 Wu, Po-hsun; Wang, Yen-chung; Weng, Jing-feng; Lu, Guo-hao; Weng, Chun-jen; Cheng, Pi-ying;
科儀新知
225 2020.12[民109.12]
頁47-59
TCI引用統計