查詢結果
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題 名:
掃描探針顯微術於光電檢測之機制:Mechanisms of Scanning Probe Microscopy in Electro-Optical Analysis
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:6=146 2005.06[民94.06]
- 頁 次:
頁52-62
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題 名:
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題 名:
透明導電薄膜簡介:Introduction to Transparent Conductive Oxide Thin Films
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:1=141 2004.08[民93.08]
- 頁 次:
頁46-55
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題 名:
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題 名:
離子束製程技術簡介(上):Introduction to Ion Beam Processing Technology (1)
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28:2=154 民95.10
- 頁 次:
頁59-67
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題 名:
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題 名:
離子束製程技術簡介(下):Introduction to Ion Beam Processing Technology (2)
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28:3=155 民95.12
- 頁 次:
頁64-72
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題 名: