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原子力顯微術之力--距離曲線於微管壁電雙層特性之評估:Evaluation of Electrical Double Layer on Electrode Surface by Force-distance Curve of AFM
呂明泰 林俊勳 吳靖宙 張憲彰 Lu, Ming-tai; Lin, Chung-hsun; Wu, Ching-chou; Chang, Hsin-chang;
界面科學會誌
27:3/4 民94.09
頁207-215
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