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題 名:
Concurrent Error Detection, Diagnosis, and Fault Tolerance for Switched-Capacitor Filters:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:4 1998.12[民87.12]
- 頁 次:
頁863-890
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題 名:
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題 名:
A Hierarchical Test Control Architecture for SOC Design:單晶片系統之階層式測試控制架構
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁355-363
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題 名:
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題 名:
Fast Deterministic Test Pattern Generation for Scan-Based BIST Environment:掃描植入式自我測試環境之快速特定測試向量產生器
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁365-376
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題 名:
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題 名:
A Built-In Current Sensor Based on Current-Mode Design:一個以電流模式為設計方法的內建式電流感測器(BICS)電路
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22 1996.04[民85.04]
- 頁 次:
頁47-55
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題 名:
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題 名:
A Hybrid LFSR Design for Low Power Applications:低功率混成線性回授移位暫存器之設計
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:1 2003.02[民92.02]
- 頁 次:
頁1-9
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:3 2007.06[民96.06]
- 頁 次:
頁219-227