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A New Measurement Technique for Capacitive Coupling Coefficients and 3-D Capacitance Characteristics in Floating-Gate Devices:一種新的量測技術用以量測懸浮閘極元件之電容性耦合係數與三度空間電容特性
Choi,Woong Lim; Kim,Dae Mann; Choi,Il Hyun;
Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering
2:1 1995.02[民84.02]
頁13-18
TCI引用統計