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調制電壓對掃描電容顯微鏡分析電性接面影像之影響:The Infl uence of Modulation Voltage in Scanning Capacitance Microscopy on the Observation of Electrical Junctions
胡晉瑋 張茂男 周棟煥 李耀仁 Hu, Chin-wei; Chang, Mao-nan; Chou, Tung-huan; Lee, Yao-jen;
科儀新知
34:3=191 2012.12[民101.12]
頁4-13
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