查詢結果
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題 名:
東芝EAVR型AVR線路分析與校驗:Circuit Analysis and Calibration of TOSHIBA EAVR Type AVRs
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
611 1999.07[民88.07]
- 頁 次:
頁55-63
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題 名:
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題 名:
富士DQVSAxPA型AVR線路分析與校驗:Circuit Analysis and Calibration of FUJI DQVSAxPA AVRs
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
582 1997.02[民86.02]
- 頁 次:
頁26-34
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:5=101 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁26-38
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題 名:
奈米轉印技術發展現況:Introduction of the Nanoimprint Technique Development
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
267 2005.06[民94.06]
- 頁 次:
頁36-46
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
773 2013.01[民102.01]
- 頁 次:
頁20-28
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題 名:
智慧電網之光纖環路系統建置:Building the Optical Fiber Loop System of the Smart Grid
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
766 2012.06[民101.06]
- 頁 次:
頁39-50
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12 2004.05[民93.05]
- 頁 次:
頁257-264
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題 名:
中壓MCSG無法跳脫案例檢討:Case Study of Medium-Voltage MCSG Fail-to-Trip Events
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
671 2004.07[民93.07]
- 頁 次:
頁22-29
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題 名:
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題 名:
161kV並聯電抗器可靠運轉之實用改善案例:Practical Improvement Case for Reliable Operation of 161kV Shunt Reactors
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
805 2015.09[民104.09]
- 頁 次:
頁19-26
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:11=160 2008.11[民97.11]
- 頁 次:
頁175-185
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題 名:
避雷器線上監測系統之性能探討:A Study of an On-Line Condition Monitoring System for Arresters
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
752 2011.04[民100.04]
- 頁 次:
頁50-58
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題 名:
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題 名:
改善臺電輸電系統線損之研究:The Study on Improvement of the Power Transmission Loss for TPC Power System
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
734 2009.10[民98.10]
- 頁 次:
頁30-39
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:9=225 2009.09[民98.09]
- 頁 次:
頁122-129
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:9=158 2008.09[民97.09]
- 頁 次:
頁230-237
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:5=166 2009.05[民98.05]
- 頁 次:
頁102-112
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題 名:
彩色共焦顯微術於微結構線上檢測研究:New Chromatic Confocal Microscope for Full-field Micro Surface Measurement
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
318 2009.09[民98.09]
- 頁 次:
頁32-40
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5 民95.10
- 頁 次:
頁137-144
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題 名:
奈米轉印國際發展現況:International Development Status of Nanoimprint Technology
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
279 民95.06
- 頁 次:
頁29-42
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:4=196 2007.04[民96.04]
- 頁 次:
頁220-227