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晶圓測試廠產能規劃研究:Capacity Planning for Wafer Probe Plant
陳建良 蕭俊彥 孫正儒 呂春美 Chen, James C.; Shiau, Jiun-yan; Sun, Cheng-ju; Lu, Chun-mi;
中原學報
33:3 民94.09
頁495-511
TCI引用統計