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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:3 2001.08[民90.08]
- 頁 次:
頁12-17
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:10=87 2002.10[民91.10]
- 頁 次:
頁233-243
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:3 2003.08[民92.08]
- 頁 次:
頁20-24
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9:3 2002.08[民91.08]
- 頁 次:
頁11-18
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:9=62 2000.09[民89.09]
- 頁 次:
頁158-165
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:3 2000.08[民89.08]
- 頁 次:
頁26-30
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:4 2004.12[民93.12]
- 頁 次:
頁51-59
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:3=191 2012.12[民101.12]
- 頁 次:
頁4-13
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題 名:
電極接面對掃描電容顯微術之影響:Influences of Electrode Junctions on Scanning Capacitance Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
206 2016.03[民105.03]
- 頁 次:
頁19-26
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:2 民95.05
- 頁 次:
頁12-17
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題 名:
X光繞射分析在半導體工業上的應用:X-ray Diffraction Utilized in the Semiconductor Industry
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:4 2008.12[民97.12]
- 頁 次:
頁6-9
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題 名:
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題 名:
奈米探針工程技術於掃描探針顯微術之應用:Applications of Nano-probe Engineering on Scanning Probe Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:4 2012.12[民101.12]
- 頁 次:
頁9-16
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:2 2013.06[民102.06]
- 頁 次:
頁27-33