查詢結果
檢索結果筆數(26)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
677 2005.01[民94.01]
- 頁 次:
頁105-116
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
36:2 2005.01[民94.01]
- 頁 次:
頁23-32
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12:1 2005.02[民94.02]
- 頁 次:
頁12-20
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:1 2005.02[民94.02]
- 頁 次:
頁9-18
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 民94.12
- 頁 次:
頁105-117
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
49:4=192 民94.12
- 頁 次:
頁128-136
-
-
題 名:
立體停車場模型監控系統:Three-dimensional Parking Lot Model Supervisory System
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28 民94.03
- 頁 次:
頁35-56
-
題 名:
-
-
題 名:
超音波奈米轉印技術之簡介:Introduction of Ultrasonic Nanoimprint Technology
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
267 2005.06[民94.06]
- 頁 次:
頁23-35
-
題 名:
-
-
題 名:
奈米轉印技術發展現況:Introduction of the Nanoimprint Technique Development
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
267 2005.06[民94.06]
- 頁 次:
頁36-46
-
題 名:
-
-
題 名:
散射儀於半導體奈米製程檢測之應用:Scatterometry for Semiconductor Manufacturing Process Control
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
267 2005.06[民94.06]
- 頁 次:
頁119-126
-
題 名:
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
86 民94.10
- 頁 次:
頁176-179
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
685 民94.09
- 頁 次:
頁1-17
-
- 題 名:
-
編 次:
1
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:12=125 民94.12
- 頁 次:
頁194-199
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:12=180 民94.12
- 頁 次:
頁168-171
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2:2 民94.09
- 頁 次:
頁25-41
-
-
題 名:
轉印模仁之奈米結構製作:The Nanostructure Fabrication of Imprinting Mold
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
269 民94.08
- 頁 次:
頁44-55
-
題 名:
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
62 2005.04[民94.04]
- 頁 次:
頁59-66
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
84 民94.08
- 頁 次:
頁129-132
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
263 2005.02[民94.02]
- 頁 次:
頁186-196
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
87 民94.11
- 頁 次:
頁142-146