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題 名:
全訊息三維電子斷層掃描顯像技術在奈米元件之應用:The Application of Advanced TEM 3D Tomography Technique in Nano-Device
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
277 2010.01[民99.01]
- 頁 次:
頁70-79
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題 名: