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Determining the Film Thickness and Probing the Interface Structure with Characteristic Scanning Tunneling Spectroscopy:
Lu, S. M.; Shih, H. T.; Jiang, C. L.; Su, W. B.; Chang, C. S.; Tsong, Tien T.;
Chinese Journal of Physics
44:4 民95.08
頁309-315
TCI引用統計