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題名 | 自動化IC印字瑕疵檢測(2)--瑕疵辨識=Automated Inspection of IC Printed Mark Defects (Ⅱ)--Defect Detection |
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作者 | 饒忻; 曾健維; 許世麟; Rau, Hsin; Tzeng, Jiann-wei; Hsu, Shih-lin; |
期刊 | 工業工程學刊 |
出版日期 | 20030700 |
卷期 | 20:4 2003.07[民92.07] |
頁次 | 頁327-336 |
分類號 | 312.13 |
語文 | chi |
關鍵詞 | IC印字; 瑕疵辨識; 相關匹配法; IC printed mark; Defect detection; Normalized cross correlation; |