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題名 | 系統高電壓對P型結晶系太陽能模組的極化影響= |
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作者 | 劉漢章; 黃中騰; 李文貴; 林美秀; 林福銘; 黃振隆; 李育舟; |
期刊 | 電子月刊 |
出版日期 | 20130400 |
卷期 | 19:4=213 2013.04[民102.04] |
頁次 | 頁131-148 |
分類號 | 484.51 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 可靠度; 高電壓應力; 電壓誘發衰減; Reliability; High voltage stress; Potential induced degradation; |
中文摘要 | 太陽能模組在研究及生產過程中,制訂了許多相關的可靠度試驗與環境試驗的規範,以確保太陽能模組可以耐用25年以上的時間;並且確保在戶外環境的使用下,能有效的轉換發電。在太陽能可靠度規範中,尤其是針對矽晶模組可靠度的IEC 61215的規範中並未針對系統高電壓應力對模組效能的影響做規範;特別是現今的太陽能系統有愈做愈大的趨勢,以歐洲為例,系統電壓要求至1000~1500伏特,相對於模組遭受到高電壓應力的威脅也愈大,模組在高電壓應力下的可靠度就顯得非常重要,需要對模組的品質重新評估。本論文就針對太陽能模組在遭受到系統高電壓應力而導致輸出功率衰減(Potential Induced Degradation, PID)的問題做探討。 |
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